覆層測厚儀跟涂層測厚儀相比較有什么優(yōu)勢 涂層測厚儀是新開發(fā)的新產(chǎn)品。與以往的涂層測厚儀相比，它具有以下主要優(yōu)點：
1、測量速度快：測量速度比其他TT系列快6倍；
2、精度高：產(chǎn)品經(jīng)過簡單的0校準(zhǔn)，精度可達(dá)1-2%.
3、穩(wěn)定性：測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品；
4、功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全中文；
材料表面的保護(hù)，通過裝飾形成的覆蓋層，如涂層、電鍍、涂層、粘層、化學(xué)生成膜等，在相關(guān)國家和國際標(biāo)準(zhǔn)中稱為涂層。涂層厚度測量已成為加工業(yè)和表面工程質(zhì)量檢測的重要組成部分，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)良質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的bi備手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目對包層厚度有明確要求。
涂層厚度的測量方法主要有：楔形切割法、光截取法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線背散射法、電容法、磁測量法和渦流測量法等。其中前五種方法為破壞性檢測，測量方法繁瑣，速度較慢，大多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是非接觸、無損測量，但裝置復(fù)雜且昂貴，測量范圍小。由于存在放射源，用戶必須遵守輻射防護(hù)規(guī)定。 X射線法可以測量超薄鍍層、雙層鍍層和合金鍍層。 β射線法適用于測量原子序數(shù)大于3的涂層和基材。電容法僅用于測量薄導(dǎo)體絕緣涂層的厚度。 |
